测定ZSM-5分子筛SiO2/Al2O3比的X射线衍射分析新方法

储刚[1] 陈刚[2][1]抚顺石油学院应用化学系,抚顺113001 [2]抚顺石油化工公司研究院,抚顺113008
摘 要:用X射线衍射最小二乘法测定ZSM-5分子筛的晶胞参数,由SiO2/Al2O3比与晶胞何种之间的经验公式,可得到ZSM-5分子筛的SiO2/Al2O3比。实验结果分析表明,该方法测定的ZSM-5分子筛SiO2/Al2O3比较通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好。

关键词:ZSM-5分子筛 二氧化硅/三氧化二铝比 X射线衍射 最小二乘法 晶胞参数
1994年 4期《 分析测试技术与仪器 》
Analysis and Testing Technology and Instruments起止页码:35-38